图书介绍

大型RISC处理器设计 用描述语言Verilog设计VISL芯片【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】

大型RISC处理器设计 用描述语言Verilog设计VISL芯片
  • （德）Ulrich Golze著；田泽等译 著
  • 出版社： 北京：北京航空航天大学出版社
  • ISBN：7810775510
  • 出版时间：2005
  • 标注页数：326页
  • 文件大小：16MB
  • 文件页数：340页
  • 主题词：微处理器，RISC－系统设计

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图书目录

第1章 概述1

第2章 VLSI电路设计1

2.1 基础和电路设计风格1

2.2 设计流程10

2.3 设计阶段划分12

第3章 RISC处理器体系结构18

3.1 简单的RISC处理器20

3.2 处理器体系结构的选择23

第4章 Verilog简短介绍29

第5章 外部行为描述37

5.1 RISC处理器如何工作37

5.2 指令集39

5.3 基于Verilog HDL建模的指令解释器48

5.4 测试方案详细说明书56

5.5 定量描述57

第6章 处理器粗略结构的内部描述59

6.1 数据流60

6.2 时序64

6.3 流水线级67

6.4 Cache和寄存器堆80

6.5 中断的处理90

第7章 粗略结构模型的流水线划分92

7.1 处理器CHIP95

7.2 取指令单元IFU103

7.3 指令译码单元IDU118

7.4 算术逻辑单元ALU126

7.5 存储器访问单元MAU131

7.6 前推和寄存器单元FRU133

7.7 构建完整的处理器141

第8章 门级模型综合142

8.1 由半导体生产商提供的库142

8.2 手工综合148

8.3 工具自动综合159

8.4 一个较大的综合实例163

8.5 特殊情况：异步总线协议171

8.6 统计数据和设计经验172

8.7 门级模型的仿真和优化173

第9章 测试、可测性设计、测试仪以及测试板178

9.1 错误模型和错误覆盖率178

9.2 自动测试仪（ATE）181

9.3 可测性设计185

9.4 功能测试190

9.5 测试数据导出193

9.6 ATE测试仪199

9.7 测试板203

9.8 结论211

第10章 总结和展望213

10.1 效率和复杂度215

10.2 用状态图和转换图进行大型VLSI设计的设计描述、分析和仿真217

10.3 错误模型和HDL的测试方案219

第11章 Verilog HDL建模221

11.1 EBNF格式语法221

11.2 Verilog语句223

11.3 基本建模概念264

11.4 实例277

11.5 语句的EBNF语法322

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